制造半导体器件时检验半导体晶片、器件或检验光掩模或光栅用 - HSCODE:90314100
商品名称:制造半导体器件时检验半导体晶片、器件或检验光掩模或光栅用
商品编码:90314100
商品描述:制造半导体器件的检测仪和器具(第90章其他品目未列名的,包括检测光掩模及光栅用的)
Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices
计量单位:台
税种:增值税
增值税征税率:17%
出口退税率:17.0%
消费税征税率:0(从量定额)
消费税征税率:0(从价定率)
最惠国进口关税税率:0%
普通进口关税率:17%
是否基本商品:否
退税率更改年月:
改后退税率:
海关监管条件:无
海关监管条件指的是出口或进口的货物在交由海关监管前所需准备的资料。
其他监管要求:
检验检疫类别:无
出入境检验检疫是指检验检疫部门和检验检疫机构依照法律、法规和国际惯例等的要求,对出入境的货物、交通工具、人员等进行检验检疫、认证及官方检验检疫证明等监管管理工作。我国法律规定,进出口货物出入境报关前,必须履行报检手续。
申报要素:1:品名;2:用途;3:功能;4:品牌;5:型号;6:有无测试结果显示;7:显示何种指标;
申报实例:
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
| 90314100.00 | 变焦光学系统 | 实验室用|集成电路,半导体|无牌|无型号|无测试结果显 |
| 90314100.00 | 半导体膜厚测量仪(旧) | 在制造半导体器件工艺中,用于测量芯片表面镀膜的厚度|测 |
| 90314100.00 | 静电卡盘 | 芯片在反应室中通过在静电卡盘上依靠静电固定,进行工艺处 |
| 90314100.00 | 半导体颗粒测试仪(旧) | 用来检测半导体芯片表面的颗粒|光路发生部分产生光束,射 |
| 90314100.00 | 制造半导体器件的检测仪和器具 | 对氮化镓、硅等半导体材料结构进行检测分析|用光学方法对氮化 |
| 90314100.00 | 多晶硅电池片分色检验仪 | 用光学原理检验多晶硅电池片|用于检验多晶硅电池片外 |
| 90314100.00 | 硅片颗粒扫描仪(旧) | 用于检测芯片表面颗粒数量和颗粒直径|测芯片表面颗粒直径和颗 |
| 90314100.00 | 半导体检测设备 | 用于半导体晶圆制造检测|检测|KLA-TENCOR|K |
| 90314100.00 | 硅芯片检测仪 | 用光学原理检测硅芯片是否有隐裂|用于检测硅芯片质 |
| 90314100.00 | DVD光学头参数测量调整仪/PULSTE | (O-PAS700S/电压100V) |
| 90314100.00 | 静电卡盘 | 制造半导体芯片过程中,芯片在反应室中通过静电卡盘上依靠 |
| 90314100.00 | 全自动晶粒挑拣机 | 使用设备,根据程序指令及自动视觉影像辨识,将符合要求的 |
| 90314100.00 | 半导体芯片光学检测仪(旧) | 检测半导体芯片表面缺陷;KLATencor;KLA2 |
| 90314100.00 | 三维管脚检测仪(旧) | 检测用;品牌ICOS;检测;型号CI-T1XO |
| 90314100.00 | 晶格图像检测机 | 型号:LEDA-PNP M6600;检测对象:LED芯片,无测试结果;显 |
| 90314100.00 | VITROX外观检测系统VT-LP2000T | 检测晶体管外观用设备 |
| 90314100.00 | 半导体器件测试机, | DC2600 |
| 90314100.00 | 全自动外观检查机 | 型号:LI-700B2,自动光学检测 |
| 90314100.00 | 半导体检测仪(旧) | DM2000 |
| 90314100.00 | DVD光学头评价机/PULSTEC | 光学头评价/O-PAS710A交流100V |
备注: